簡(jiǎn)單幾個(gè)元件制作一個(gè)可測(cè)量10kHz-100MHz晶振的測(cè)試電路(電路如圖),方便愛好者們?cè)跈z修U盤、MP3等數(shù)碼產(chǎn)品時(shí)遇到的晶振是否損壞,很方便、快捷。
BG1和所接阻容元件構(gòu)成多頻振蕩器,經(jīng)C3、D1、D2進(jìn)行檢波后,LED上得到下正上負(fù)的電壓,驅(qū)動(dòng)LED發(fā)光。 <<版權(quán)聲明:本文由容源電子網(wǎng)(www.jssjbk.com)整理提供,部分內(nèi)容來源于網(wǎng)絡(luò),如有侵犯到你的權(quán)利請(qǐng)與我們聯(lián)系更正。》
若晶振已壞,LED不亮。可將此小電路安裝在維修用的電源上,留兩個(gè)插測(cè)晶振元件的小孔。
制作中應(yīng)注意:晶振的兩條引出線不能相距過近,否則振蕩幅度大大減小導(dǎo)致發(fā)光管不亮。工作電壓為10V----30V直流電。
<<版權(quán)聲明:本文由容源電子網(wǎng)(www.jssjbk.com)整理提供,部分內(nèi)容來源于網(wǎng)絡(luò),如有侵犯到你的權(quán)利請(qǐng)與我們聯(lián)系更正。》
溫馨提示:將鼠標(biāo)指針放在圖片上,滾動(dòng)鼠標(biāo)可以動(dòng)態(tài)改變圖片大小,方便分析電路圖。
<<版權(quán)聲明:本文由容源電子網(wǎng)(www.jssjbk.com)整理提供,部分內(nèi)容來源于網(wǎng)絡(luò),如有侵犯到你的權(quán)利請(qǐng)與我們聯(lián)系更正。》
本文地址:http://www.jssjbk.com/dz/21/342720530.shtml
本文標(biāo)簽:
猜你感興趣:
可滿足各種測(cè)試環(huán)境要求的多路信號(hào)源的設(shè)計(jì)
1、 引言隨著測(cè)試設(shè)備的飛速發(fā)展,其性能狀況越來越受到人們的重視,經(jīng)過一段時(shí)間要對(duì)測(cè)試設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。主測(cè)試板作為測(cè)試設(shè)備上的重要部件,它的性能好壞起著重要作用。在
耐壓測(cè)試儀的工作原理
耐壓測(cè)試儀,又叫電氣絕緣強(qiáng)度試驗(yàn)儀,或叫介質(zhì)強(qiáng)度測(cè)試儀,也有稱介質(zhì)擊穿裝置、絕緣強(qiáng)度測(cè)試儀、高壓實(shí)驗(yàn)儀、高壓擊穿裝置、耐壓試驗(yàn)儀等。主要用于聚乙烯絕緣的電力電纜的耐壓測(cè)試,也可用于大型電力變壓器的絕緣耐壓測(cè)試。耐壓測(cè)試儀采用超低頻高壓測(cè)試電力電纜的耐壓是一種新的方法。
分析電纜故障測(cè)試儀的測(cè)試原理與優(yōu)缺點(diǎn)
智能電纜故障測(cè)試儀別稱:電纜故障測(cè)試儀,電纜故障綜合測(cè)試儀,筆記本電纜故障測(cè)試儀,電纜故障儀等。電纜故障探測(cè)儀測(cè)試原理:采用低壓脈沖法測(cè)試電纜全長(zhǎng),傳輸速度,斷
傳感器轉(zhuǎn)換放大測(cè)試電路(圖文)
傳感器轉(zhuǎn)換放大測(cè)試電路 由運(yùn)算放大器A1和A2構(gòu)成第Ⅰ級(jí),由運(yùn)放A3構(gòu)成第Ⅱ級(jí)。各運(yùn)放一般是高性能放大器,例如低漂移高精度運(yùn)算放大器OP—07。把被放大信號(hào)的兩端Vin+和Vin-分別接到A1和
以SHT15與89C51構(gòu)成的測(cè)試相對(duì)濕度系統(tǒng)的電路圖
本測(cè)試系統(tǒng)不僅能測(cè)量相對(duì)濕度、溫度和露點(diǎn),而且能準(zhǔn)確的顯示出來。89C51單片機(jī)作為主機(jī),SHT15作為從機(jī),它們通過串行總線進(jìn)行通信。相對(duì)濕度的測(cè)量精度為±2%RH,分辨力為0.01%RH,
液晶電視邏輯板維修五個(gè)關(guān)鍵測(cè)試點(diǎn)(圖文)
液晶電視邏輯板維修五個(gè)關(guān)鍵測(cè)試點(diǎn) 液晶屏驅(qū)動(dòng)板(邏輯板)損壞后常見的故障有黑屏、白屏、灰屏、噪波點(diǎn)、負(fù)像、 豎帶、圖像太亮或太暗等。 在實(shí)際檢修中,因時(shí)序控
解讀二極管浪涌電流測(cè)試電路(圖文)
該文講述了二極管正向浪涌電流測(cè)試的基本要求和標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法,針對(duì)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法存在的不足,設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了采用信號(hào)控制、電容儲(chǔ)能和大功率場(chǎng)效應(yīng)管晶體管電流驅(qū)動(dòng)的電路解決方案,簡(jiǎn)潔而
超高頻射頻識(shí)別標(biāo)簽靈敏度的測(cè)試方法及解決方案(圖文)
超高頻標(biāo)簽是指840M到960MHz無源射頻識(shí)別標(biāo)簽。這個(gè)波段的標(biāo)簽起源自EPCglobal Class 1 Generation 2標(biāo)準(zhǔn)。 其中EPCglobal是電子產(chǎn)品編碼標(biāo)準(zhǔn)組織,第一類第二代RFID標(biāo)準(zhǔn)經(jīng)
應(yīng)用ne555制作音頻連續(xù)性測(cè)試儀
這種低電流音頻連續(xù)性測(cè)試儀通過音頻信號(hào)來指示未知電阻的數(shù)值。高聲調(diào)表示低電阻,每秒幾個(gè)脈沖聲調(diào)表示電阻高達(dá)30兆歐。 :
用TDA8350Q構(gòu)成的測(cè)試電路
:用TDA8350Q構(gòu)成的測(cè)試電路
簡(jiǎn)易晶振測(cè)試電路
無
簡(jiǎn)易晶振好壞測(cè)試電路
無
集成電路(IC)測(cè)試工作原理
無
高效簡(jiǎn)易耐壓測(cè)試器電路圖
無
教你如何測(cè)試絕緣電阻
無
鋰電池容量測(cè)試方法
無
測(cè)試探頭電路
無
無線話筒的實(shí)用測(cè)試方法
無
詳細(xì)介紹磁放大磁芯的測(cè)試方法
無
電路板故障檢測(cè)儀的主要測(cè)試功能
無